Objektyvas Nikon FTZ II bajoneto adapteris kaina

Vienas laikiklis. Begalinis įkvėpimas.

NIKKOR objektyvų pasaulis. Galimybių visata.

Sklandžiai išplėskite savo Nikon Z fotoaparato repertuarą naudodami F tvirtinimo objektyvus.

Aštresnis nei bet kada anksčiau

Automatinės ekspozicijos fotografavimas įjungtas šimtams F-mount objektyvų. F montavimo objektyvai su įmontuotu automatinio fokusavimo varikliuku išlaiko visas automatinio fokusavimo galimybes.

Stabiliau nei bet kada anksčiau

Naudojant F-objektyvą su VR, posvyrio ir posvyrio aptikimą objektyve papildo fotoaparate esantis posvyrio aptikimas. Fotografuojant su F-mount objektyvu be VR, posvyrio, posvyrio ir posvyrio koordinatės koreguojamos fotoaparate.

Nikon FTZ II montavimo adapteris

FTZ II montavimo adapteris turi supaprastintą dizainą su minimaliomis iškyšomis ir siūlo tas pačias funkcijas kaip ir originalusis FTZ. Jo aptakesnis dizainas leidžia patogiai naudoti fotoaparatuose su akumuliatoriaus rankena. Adapteris pašalina trikojo laikiklį ir yra mažesnio bendro dydžio, todėl patogiau fotografuoti su įmontuota ar pritvirtinta rankena ar belaidžiu siųstuvu.

Šis adapteris leidžia naudoti beveik visus F montavimo objektyvus Z montavimo beveidrodžių fotoaparatų korpusuose. Jis suderinamas su maždaug 360 skirtingų F-mount objektyvų, o ypač tinka daugiau kaip 90 AF-S ir AF-P D, E ir G tipo objektyvų naudojimui, visiškai išlaikant automatinio fokusavimo ir automatinės ekspozicijos funkcijas. Adapteris pagamintas iš magnio lydinio ir yra sandarus.

Objektyvų suderinamumas

• Automatinio fokusavimo objektyvai:
• AF-S tipo G, E ir D; AF-P tipo G ir E; AF-I tipo D: visiškai palaiko automatinį fokusavimą, rankinį fokusavimą (su elektroninio tolimatinio ieškiklio palaikymu), visus automatinės ekspozicijos režimus ir ekspozicijos matavimą
• G ir D tipo AF: tik rankinis fokusavimas (su elektroninio tolimmačio palaikymu), visi automatinės ekspozicijos režimai ir ekspozicijos matavimas
• Kiti AF objektyvai: tik rankinis fokusavimas, visi automatinės ekspozicijos režimai ir ekspozicijos matavimas